基于開路電壓(OCV)的電量計DS2786在出廠時將默認的OCV特性和默認配置加載到EEPROM中。為了提高OCV電量計的精度并使DS2786適 應特定的應用場合，必要時需對DS2796的EEPROM進行再編程。本文描述了如何對EEPROM進行編程及如何對已經(jīng)安裝好的電路板進行測試。
板極測試
下文給出了一個安裝電池包之前測試基于DS2786 OCV電路板的例子。圖1為電路板的電路原理圖，用到了DS2786的所有功能。圖中所有重要的測試點(共7個)都用帶圈數(shù)字標出。測試流程假定電路中的 所有分立元件已經(jīng)過測試，因此，測試目的為確認線路連接，從而驗證安裝的電路板是否正確。
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???????????????????????????????????????????????????????????????????????????? 圖1. 必須驗證的電路節(jié)點
測試步驟1：
??????? 測試初始化。該步驟的目的是確定電路板中是否存在直接短路，是否能進行通信。器件成功通信后可以讀取電壓 寄存器讀數(shù)，以驗證SDA和SCL連接(節(jié)點1)、Pack+和VDD引腳之間的連接(節(jié)點2)，以及Pack-和VSS引腳(節(jié)點3)之間的連接是否正 確。此外，通過讀取電壓寄存器并確認測試是否有效，可以驗證VIN引腳(節(jié)點4)連接是否正確。
Pack+與Pack-間接4.0V電源。
等待880ms。 等待電壓轉換。
讀電壓寄存器： 2字節(jié)。
若未發(fā)生通信表明電路安裝失敗。
若電壓讀數(shù)不正確表明電路安裝失敗。
測試步驟2：
驗證SNS (節(jié)點5)。通過有效的電流測試可驗證SNS引腳連接是否正確。
Pack+與Pack-間接4.0V電源。
Pack-與系統(tǒng)VSS間電流為1.0A。
等待880ms。 等待電流轉換
讀電流寄存器： 2字節(jié)。
若電流讀數(shù)不準確表明電路安裝失敗。
測試步驟3：
驗證輔助輸入AIN0和AIN1連接(節(jié)點6)。通過有效的電阻測量可驗證AIN0和AIN1引腳連接是否正確。這一步是可選的。
在PackID端與Pack-間接10kΩ電阻。
在Therm端與Pack-間接10kΩ電阻。
Pack+與Pack-間接4.0V電源。
等待880ms。 等待輔助輸入轉換。
讀AIN0和AIN1： 4字節(jié)。
若AIN0/AIN1讀數(shù)不準確表明電路安裝失敗。
測試步驟4：
驗證VPROG并對EEPROM編程(節(jié)點8)。需要提供一個測試點用于連接編程電壓至VPROG引腳， 以對DS2786的EEPROM進行編程。通過寫EEPROM和復制EEPROM可以驗證該連接是否正確，并驗證EEPROM是否已更新。EEPROM中 包括了電流失調偏置寄存器(COBR)，因此在編程EEPROM之前校準COBR是有益的。
Pack+與Pack-間接4.0V電源。
校準COBR。 若希望進行COBR校準，可以參看下文的詳細說明。
寫參數(shù)EEPROM區(qū)： 32字節(jié)。
將參數(shù)復制到EEPROM。
等待14ms。 等待復制EEPROM。
向參數(shù)EEPROM區(qū)寫0xFFh： 31字節(jié)非存儲器地址0x7Dh)*。
從EEPROM中調用參數(shù)。
讀參數(shù)EEPROM區(qū)： 32字節(jié)。
如果從EEPROM中讀取到的32個字節(jié)都無法與原先寫入的32字節(jié)相匹配，說明電路安裝失敗。
不要向存儲器地址7Dh寫入0xFFh，否則從地址將變化并且器件將停止響應當前從地址。
電流失調偏置寄存器的校準
通過電流失調偏置寄存器，可在+3.175mV至-3.2mV間調節(jié)DS2786電流測量結果，步長為25μV。COBR的出廠默認值為0x00h。以下例子列出了校準DS2786電流失調偏置寄存器的步驟：
給DS2786加電，確保檢測電阻中無電流。
向COBR中寫0x00h (存儲器地址0x60h)。
等待880ms，直至下一個轉換周期到來。
讀電流寄存器。
根據(jù)實際需要，多次重復步驟3和步驟4，直至獲得平均電流讀數(shù)。
將平均電流讀數(shù)的相應值寫入COBR。
將COBR值復制到EEPROM (該步驟應與將所有值復制到EEPROM結合起來共同進行)。
總結
要對組裝好的基于OCV電量計DS2786進行正確驗證，需要測試電路中的每一個焊點。測試步驟1、2和3可以合為一個步驟以縮短測試時間，尤其是可以縮短轉換延遲時間。
此外，測試期間對EEPROM編程可以提供更有效的測試流程，同時可以提供足夠的時間施加保存參數(shù)(包括電流失調偏置)至EEPROM所需的編程電壓。
