晶振停振注意要點(diǎn)由于晶振在剪腳和焊錫的時(shí)候容易産生機(jī)械應(yīng)力和熱應(yīng)力，而焊錫溫度過高和作用時(shí)間太長(zhǎng)都會(huì)影響到晶體，容易導(dǎo)致晶體處于臨界狀態(tài)，以至出現(xiàn)時(shí)振時(shí)不振現(xiàn)象，甚至停振。在焊錫時(shí)，當(dāng)錫絲透過線路板上小孔滲過，導(dǎo)致引腳跟外殼連接在一塊。

或是晶體在制造過程中，基座上引腳的錫點(diǎn)和外殼相連接發(fā)生單漏，都會(huì)造成短路，從而引起停振。當(dāng)晶體頻率發(fā)生頻率漂移，且超出晶體頻率偏差范圍過多時(shí)，以至于捕捉不到晶體的中心頻率，從而導(dǎo)致芯片不起振。由于芯片本身的厚度很薄，當(dāng)激勵(lì)功率過大時(shí)，會(huì)使內(nèi)部石英芯片破損，導(dǎo)致停振。在檢漏工序中，就是在酒精加壓的環(huán)境下，晶體容易產(chǎn)生碰殼現(xiàn)象，即振動(dòng)時(shí)芯片跟外殼容易相碰，從而晶體容易發(fā)生時(shí)振時(shí)不振或停振。在壓封時(shí)，晶體內(nèi)部要求抽真空充氮?dú)?，如果發(fā)生壓封不良，即晶體的密封性不好時(shí)，在酒精加壓的條件下，其表現(xiàn)為漏氣，稱之為雙漏，也會(huì)導(dǎo)致停振。

壓敏電阻著火的表觀狀況，大致可分成脆化無效和暫態(tài)過壓毀壞兩類種類。脆化無效，這就是指電阻體的低阻線性化逐漸加重，泄露電流惡變提升且集中化注入薄弱環(huán)節(jié)，薄弱環(huán)節(jié)原材料溶化，產(chǎn)生1kΩ上下的短路故障孔后，開關(guān)電源再次促進(jìn)1個(gè)很大的電流量灌進(jìn)短路故障點(diǎn)，產(chǎn)生高燒而著火。這類安全事故一般 能夠根據(jù)1個(gè)與壓敏電阻串連的熱融接點(diǎn)來防止。熱融接點(diǎn)應(yīng)與電阻體有良好的熱藕合，當(dāng)較大 沖擊性電流量穿過時(shí)不容易斷掉，但當(dāng)溫度超出電阻體限制操作溫度時(shí)即斷掉。研究結(jié)果表明，若壓敏電阻存在著制造缺陷，易產(chǎn)生初期無效，抗壓強(qiáng)度并不大的電沖擊性的數(shù)次作用，也會(huì)加快脆化全過程，使脆化無效提前出現(xiàn)。

暫態(tài)過壓毀壞，這就是指較強(qiáng)的暫態(tài)過壓使電阻體穿孔，導(dǎo)致更大的電流量而高燒著火。整個(gè)過程在較短時(shí)間內(nèi)產(chǎn)生，以至電阻體上設(shè)置的熱融接點(diǎn)來不及熔斷。在三相電源保護(hù)中，N-PE線之間的壓敏電阻器燒壞著火的安全事故幾率較高，多數(shù)是屬于這一種情況。相對(duì)的防范措施集中化在壓敏電阻損壞后不著火。一些壓敏電阻的運(yùn)用技術(shù)中，推薦與壓敏電阻串連電流量熔絲（保險(xiǎn)絲）開展保護(hù)。

壓敏電阻器的連接線難題。將壓敏電阻接入電路的連接線要足夠粗，推薦的連接線的尺寸注：接地線為5.5mm2以上連接線要盡可能短，且走直線，因?yàn)闆_擊性電流量會(huì)在連接線電感上產(chǎn)生附加電壓，使被保護(hù)設(shè)備兩端的限制電壓升高。壓敏電阻通流量≤600A(600～2500)A(2500～4000)A(4000～20K)A，導(dǎo)線截面積≥0.3mm2≥0.5mm2≥0.8mm2≥2mm2。例如：若壓敏電阻MY兩端各有3cm長(zhǎng)的接線，它的電感量L大體為18nH，若有10KA的8/20沖擊性電流量注入壓敏電阻，把電流量的升速看作10KA/8Μs，則引線電感上的附加電壓UL1、UL2大體為UL1=UL2=L(di/dt)=18×10-9(10×103/8×10-6)=22.5V這就使限制電壓增高。

為防止壓敏電阻在失效時(shí)會(huì)冒煙、起火或爆炸，一些廠家會(huì)使用此技術(shù)將壓敏電阻灌封起來，但由于壓敏電阻在失效時(shí)內(nèi)部會(huì)出現(xiàn)拉弧，導(dǎo)致密封材料失效，并產(chǎn)生碳，碳又會(huì)使電弧得以維持，這樣往往會(huì)導(dǎo)致設(shè)備內(nèi)部短路及熏黑。隔離技術(shù)將壓敏電阻裝在一個(gè)密閉的盒體內(nèi)，與其它電路相隔離，防止壓敏電阻煙霧和火焰的蔓延。在各種后備保護(hù)都失靈的情況下，隔離技術(shù)也不失為一種簡(jiǎn)單有效的方法，但需要占用較大的設(shè)備空間，同時(shí)還要防止煙霧和火焰從盒體引線開孔的地方冒出。

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